OTIMIZAÇÃO DO TEMPO DE TESTE FUNCIONAL DE PLACA DE CIRCUITO IMPRESSO MONTADA PARA COMPUTADOR PESSOAL

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dc.contributor.advisorBLANCO, Cláudio José Cavalcante
dc.creatorOLIVEIRA, Edson Farias de
dc.date.accessioned2025-02-11T22:49:09Z
dc.date.issued2012
dc.description.abstractThe increasing competitiveness among companies in the same sector has made continuous process optimization essential to reduce costs. This study evaluates the time involved in the functional testing phase of motherboards produced in the Industrial Pole of Manaus and proposes improvements for optimization. A system for image capture was developed to analyze idle times, along with test devices and a proprietary Linux-based test system, replacing the previous system that depended on foreign suppliers. Percentage gains were demonstrated through four optimization proposals: unifying tests, performing simultaneous tests on two boards, replacing the test system, and automating the test device. The results obtained after implementing these improvements were positive, reinforcing the importance of applying scientific methodologies combined with innovation to optimize production processes.
dc.description.resumoO aumento da competitividade entre empresas do mesmo setor tem tornado essencial a otimização contínua dos processos produtivos para reduzir custos. Este trabalho avalia os tempos envolvidos na fase de testes funcionais de placas-mãe produzidas no Polo Industrial de Manaus e propõe melhorias para otimização dessa etapa. Foram desenvolvidos um sistema de captura de imagens para análise de tempos ociosos e dispositivos para testes, além de um sistema proprietário de testes baseado em Linux, substituindo o sistema anterior dependente de fornecedores estrangeiros. Os ganhos percentuais foram apresentados em quatro propostas de otimização, incluindo a unificação dos testes, a realização simultânea de testes em duas placas, a substituição do sistema de teste e a automação do dispositivo de teste. Os resultados obtidos após a implementação dessas melhorias foram positivos, demonstrando a importância da aplicação de metodologias científicas combinadas com inovação para a otimização de processos produtivos.
dc.description.sponsorshipNão se aplica.
dc.formatpdf.
dc.identifier.citationOLIVEIRA, Edson Farias de. Otimização do tempo de teste funcional de placa de circuito impresso montada para computador pessoal. 2012. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) – Universidade Federal do Pará, Instituto de Tecnologia, Belém, 2012.
dc.identifier.urihttps://rigalileo.itegam.org.br/handle/123456789/401
dc.languagept
dc.publisherUniversidade Federal do Pará
dc.publisher.countryBrasil
dc.publisher.departmentUniversidade Federal do Pará
dc.publisher.initialsUFPA/PPGEE
dc.publisher.programPrograma de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica
dc.subjectOtimização
dc.subjectTeste funcional
dc.subjectProcesso produtivo
dc.subjectPolo Industrial de Manaus
dc.subjectAutomação
dc.subject.cnpqEngenharia Elétrica
dc.titleOTIMIZAÇÃO DO TEMPO DE TESTE FUNCIONAL DE PLACA DE CIRCUITO IMPRESSO MONTADA PARA COMPUTADOR PESSOAL
dc.typeDissertação

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